LFU:online

Anmeldevoraussetzung: keine

Lernergebnis: Die Studierenden sind in der Lage: - Methoden zur Bestimmung der Morphologie, Struktur und chemischen Zusammensetzung von Oberflächen und Grenzflächen zu verstehen und zu erläutern, einschließlich Rastertunnelmikroskopie, Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Tiefenprofil-Analyse und Adsorptionsspektroskopie; - experimentelle Arbeiten im Bereich Grenzflächen- und Materialanalytik durchzuführen und zu analysieren, einschließlich der Nutzung von (elektrochemischem) STM und Tiefenprofil-Analyse mit Röntgenphotoelektronenspektroskopie; - die Grundlagen und Anwendungen von Rastersondenmikroskopie, Rasterkraftmikroskopie und weiteren mikroskopischen Techniken zu verstehen und zu beschreiben, einschließlich Oberflächen-Potenzial-Mikroskopie, Electric-Force-Mikroskopie, Reibungsmikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie; - Oberflächen im nanoskopischen Bereich und mit atomarer Auflösung zu charakterisieren, einschließlich der Verwendung von Rastersondenmethoden, und Untersuchungen von Nanoteilchen und Schichtmaterialien mit Elektronenmikroskopie durchzuführen.